目前常用的鍍層檢測方法主要有楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光光譜法等。前五種方法要損壞產品或產品表面，是屬于有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢。而X射線熒光光譜法的技術相對成熟，可以達到即時分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達到小數點后四位數，是我國普及型貴金屬檢測技術的發展方向。西凡科技生產的鍍層檢測儀使用的就是X射線熒光光譜法這一*的檢測技術。
X射線熒光光譜法（XRF）的工作原理是利用X射線激發被測物體表面,使得其表面原子發生能級躍遷,利用探測器接收到X射線,然后通過能譜圖對比分析出元素成份。
選擇X熒光光譜鍍層檢測儀的四個理由：
1、無損檢測
鍍層工藝的高要求，讓楔切法、光截法等傳統的破壞性檢測方法越來越不適用，市場上迫切需要一種快速、準確、無損的檢測方法，而X射線熒光光譜法無非是zuijia的鍍層無損檢測方法。
2、強化品質管控
X熒光光譜鍍層檢測儀可以準確檢測鍍層的金屬含量及厚度等數據，這是做好電鍍品質管控的前提。
3、提升生產力
傳統的檢測技術，既耗時又耗人力，而X熒光光譜鍍層檢測儀可以很大程度上解放勞動力，且檢測速度快、精度高，這對提高電鍍企業生產力、節約成本有很大幫助，從而帶來更多的經濟效益。
4、提升市場競爭力
X熒光光譜鍍層檢測儀不但可以幫助電鍍企業提升勞動生產力，也可以幫助電鍍企業在行業里保持領xian的競爭優勢。
儀器推薦：鍍層檢測儀XRF-9500
鍍層檢測儀XRF-9500根據多年的鍍層檢測技術和經驗，自主研發生產的X射線熒光光譜檢測儀之一。它配備了美國進口的Si-PIN探測器，并集成探測器供電控制系統等十多項自主研發產品，符合鍍層檢測標準GB/T 16921-2005。
鍍層厚度分析儀性能特點
無損：無損檢測，不需要任何耗材
：美國進口Si-PIN探測器，對所有元素均能檢測
簡便：操作簡易，無需專業測試人員，無需嚴格的測試條件
快速：3秒內可對樣品定性識別，60秒內可得出測試結果
直觀：高清晰圖形即時顯示，檢測結果直觀明了
安全：加裝防輻射裝置，主動保護操作人員安全
